材料開発エンジニア

検査・計測装置

計測・解析エンジニア

【名古屋】FIB分析※半導体等の材料分析◆台湾大手の検査受託企業／大手メーカーと取引有／増員募集

～台湾大手資本の完全独立型分析検査等受託企業／大手半導体メーカー・国立大学・国立研究所等と取引～
■業務内容
半導体の材料・構造分析を行う当社にて、分析エンジニア職として、電子顕微鏡（FIB）を使用した半導体や電子材料の解析業務や顧客との打ち合わせ、立ち合い観察などの業務をお任せいたします。
半導体を利用する大手国内企業などに、受託分析設備を貸出し、立ち合い観察をしながら分析を行います。
【変更の範囲：会社の定める業務】

■勤務時間補足
業務に慣れていただきましたら三勤三休制度あり（例 7:30-19:30／19:30-7:30）勤務時間が10時間、休憩120分

■職務の特徴
◎FIB（Focused Ion Beam：集束イオンビーム）はイオン源としてガリウム（Ga）を使用し、金属や酸化物のスパッタリング、成膜、エッチングによるリソグラフィーを行うことができます。
◎FIBに用いられる金属イオン源（Ga）の蒸気圧は6.98×10-38Torrと低く、超高真空を含む様々な真空環境で用いられています。FIBではこのイオン源に強力な電場を加えて溶融させ、その形状をテイラーコーン形状に変化させます。その頂点はGaイオンビームを放出するのに十分な鋭さとなります。エネルギー分散が4.5eV、輝度が106A/cm2srのビームは、10nm以下の領域に集光することができます。
◎FIBシステムは、液体イオン源、集光レンズ、走査レンズ、移動ステージ、ガス導入システム（GIS）、信号検出器から構成されています。金属や酸化物のイオンスパッタリング、成膜、エッチングによるリソグラフィーが可能であり、MEMSにも最適なツールです。

■台湾本社と日本法人
◎母体となる台湾マーテックは、資本金10億円強で従業員数はグループ全体で約1,300名。「TEM（透過型電子顕微鏡）による材料解析」「半導体デバイス解析」「回路解析」を展開しています。大手携帯メーカーや大手半導体メーカーからの分析依頼を専属で受け、半導体業界を牽引しています。
◎日本法人でも立地を活かし、EVのなど変化のある自動車業界との関わりを持っています。非常に高価な電子顕微鏡を複数保有し、自動車メーカー最大手からの設備貸出依頼の案件もあります。

変更の範囲：本文参照

＜最終学歴＞大学院、大学、高等専門学校卒以上

＜応募資格/応募条件＞
■必須条件：
・半導体分析のご経験をお持ちの方
・FIB使用経験1年以上（TEMサンプル製作業務）

■歓迎条件：
・中国語スキルがある方
・英語スキル初級以上

＜語学力＞
必要条件：英語初級
歓迎条件：中国語（北京語）初級

＜語学補足＞
■歓迎条件：英語スキル初級以上・中国語スキル

＜勤務地詳細1＞
本社
住所：愛知県名古屋市名東区上社4-130
勤務地最寄駅：地下鉄東山線／上社駅
受動喫煙対策：屋内全面禁煙
＜勤務地詳細2＞
本社
住所：愛知県名古屋市名東区上社4-130
勤務地最寄駅：地下鉄東山線／上社駅
受動喫煙対策：屋内全面禁煙
変更の範囲：本文参照

＜勤務地補足＞
※3か月～半年間研修を行います。
【変更の範囲：会社の定める事業所】

＜転勤＞
当面なし
※ただし本人の希望による

＜オンライン面接＞
可

＜予定年収＞
400万円～800万円

＜賃金形態＞
月給制

＜賃金内訳＞
月額（基本給）：250,000円～500,000円

＜月給＞
250,000円～500,000円

＜昇給有無＞
有

＜残業手当＞
有

＜給与補足＞
※給与詳細は、前職の年収を考慮し決定します。
■賞与：年2回（正社員のみ／計4ヶ月分を想定／会社・個人業績により決定）
■昇給：毎年4月（個人業績により決定）

賃金はあくまでも目安の金額であり、選考を通じて上下する可能性があります。
月給(月額)は固定手当を含めた表記です。

＜労働時間区分＞
1ヶ月単位の変形労働時間制
週平均労働時間：40時間00分
休憩時間：60分
時間外労働有無：有

＜勤務時間＞
9:00～18:00（シフト制）

＜勤務パターン＞
9:00～18:00
17:00～2:00
22:00～7:00
＜その他就業時間補足＞
※研修及び研修後、三勤三休（勤務10時間／休憩120分）に変更する場合があります。