【四日市】検査・計測技術の研究開発(次世代フラッシュメモリ向け)◆在宅勤務可／半導体未経験者歓迎

テスト開発エンジニア

プロセス技術研究者

計測・解析エンジニア

【四日市】検査・計測技術の研究開発(次世代フラッシュメモリ向け)◆在宅勤務可／半導体未経験者歓迎

面接1回／検査技術の研究開発／次世代メモリの開発スピードと歩留まり（品質）を直接左右する重要なポジション

【お任せする業務】
半導体前工程300mmウェハラインにおける次世代3Dフラッシュメモリ向け先端検査計測技術の開発戦略立案および評価機の選定・導入推進。

【具体的な仕事内容】
■課題抽出と要素技術の探索
高層化する3Dフラッシュメモリ（深穴の形状、微細な溝、積層膜の密着性など）における検査・計測課題を社内関連部門から吸い上げます。

対象技術例：CD-SEM（線幅測定）、散乱光・画像処理による欠陥検査（インスペクション）、X線/光学による膜厚・組成解析、E-beam（電子線）による形状観察など
国内外の最新技術動向や新方式の測定原理を調査・探索します。

■検査計測技術の開発戦略・ロードマップ立案
次世代・次々世代のデバイス構造に対して、要求される「測定精度」「スループット」「コスト」を満たすための試作・量産向け検査計測ロードマップおよび開発戦略を策定します。

■装置メーカーとの技術協議・仕様策定
国内外の主要検査計測装置メーカー（光学系・電子ビーム系・X線分析系など）と協働し、当社の技術課題を解決するための新機能開発や、評価設備のカスタム仕様について議論・検討を進めます。

■評価機のデモ評価・データ検証
メーカーのデモ機や導入検討機を用いて実ウェハの測定・評価を実施します。取得したデータの感度・再現性・解析精度を検証し、課題の抽出と対策検討を行います。

■製造ラインへの導入・評価フロー確立
技術妥当性が確認できた設備を導入し、次世代開発ラインや量産前工程ラインでスムーズに稼働できるよう、標準的な評価フローや解析アルゴリズムの構築・展開を行います。

【業務のやりがい・魅力】
■「検査計測の戦略・ロードマップ」から創れる
既製品の装置を動かすだけのオペレーション業務ではありません。
「次世代デバイスのどの構造を、どんな物理原理で可視化すべきか」という課題抽出から、国内外の装置メーカーとの共同開発・仕様策定、ライン導入までを一貫して主導できます。

変更の範囲：その他会社が指示する業務